摘要：如何準確求解絕緣柵雙極晶體管(IGBT)模塊的開關(guān)損耗值,是電力變換器性能和壽命研究中的關(guān)鍵問題之一。針對現(xiàn)有IGBT開關(guān)損耗模型難以準確求解開關(guān)損耗值的缺陷,引入了基于粒子群算法優(yōu)化的誤差反向傳播(BP)前饋神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型。將影響開關(guān)損耗的5個主要因素(集射工作電壓、集電極電流、驅(qū)動電壓、驅(qū)動電阻、結(jié)溫)作為BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的輸入向量,并采用粒子群算法優(yōu)化網(wǎng)絡(luò)的初始權(quán)值與閥值,通過共軛梯度法的學(xué)習(xí)規(guī)則加速收斂,從而獲得開關(guān)損耗的精確求解值。該模型實現(xiàn)了在額定值范圍內(nèi)對各種工況下的IGBT模塊開關(guān)損耗值的可靠預(yù)測,其在100組測試驗證樣本下所出現(xiàn)的最大誤差比率為3.85%。